请问下怎样根据HRTEM作出的FFT图确定晶面?

[图片] 如图,只有高分辨透射的图,然后软件转换出右图,图上的晶面怎样确定的呢,用什么软件,操作步骤是什么啊?
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HRTEM是透射电镜的一种,将晶面间距通过明暗条纹形象的表示出来。通过测定明暗条纹的间距,然后与晶体的标准晶面间距d对比,确定属于哪个晶面。这样很方便的标定出晶面取向,或者材料的生长方向。Digital Micrograph是一个用于透射电镜数据采集和分析的软件,它由美国Gatan公司研发。 在电子显微学界,Gatan DigitalMicrograph (DM)是一个为人皆知的软件。DM 具有采集图像,图像处理和分析,数据管理和报告打印等多种功能。
(1)软件无需安装,直接解压使用,双击Digital Micrograph
(2)打开Digital Micrograph软件,点击File/Open,TEM图片一定要dm3格式
(3)选择标尺,如图,按照图片上的标尺画一遍
(4)点击Analysis/Calibrate
(5)按照图像上的标尺,这里填5,单位nm
(6)选择需要测量晶格条纹的地方,同时键盘按住Alt,点击软件上的矩形选择按钮
(7)得到一个正方形选择框图像
(8)点击Process/Live/FFT
(9)得到如图效果
(10)点击左边菜单上两个圆球图标的选项,如图
(11)会出现两个白色的小点,调整图像,使白色小点位于选择框中央
(12)点击Process/Apply Mask
(13)输入值为5,点击OK
(14)如图,得到两个白色的亮点
(15)再点击Process/Inverse FFT
(16)得到处理的晶格条纹
(17)点击如图所示的图标
(18)画出垂直晶格条纹的直线
(19)得到如下图像
(20)再点击选择框
(21)选择10个峰,(从第一个峰的起点到最后一个峰结束),取平均值,就得到我们材料的晶格条纹为0.266nm
(22)再经过组合处理添加图标,即可得到文献中所示的效果









1、File——Open——文件类型改成all files,找到自己需要的图片——打开如1

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2、格式转换:edit-change data type-integer-ok-确定

2

3、测量比例尺:放大图片后-右键,使用“虚线”画一条和比例尺同等长度的线条,-microscope-calibrate image-输入对应的长度和单位,一般和给出的比例尺长度很接近--ok

3
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4、晶格条纹测量:选好测量区域,放大-右键,框选测量区域-progress-FFT出现6图所示的两个亮点-右键选择Spot,在亮点上单击选中亮点,-progress-inverse FFT得到7图,在7图上右键-点击右下角图标,画一条垂直于晶格条纹的线,这个线可以随时变换长度,控制新出现的蓝色图片(8图)上的峰基本保持一致,用出现的长度(虚线框最左边到最右边的距离,图中已经给出为1.914nm)除以峰的个数(红色圈的数量)即为晶格条纹。可以多测量几个晶格点确定所测晶格条纹范围。

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软件安装包:链接: pan.baidu.com/s/1UlqWRi

提取码:lobg