1、File——Open——文件类型改成all files,找到自己需要的图片——打开如1
2、格式转换:edit-change data type-integer-ok-确定
3、测量比例尺:放大图片后-右键,使用“虚线”画一条和比例尺同等长度的线条,-microscope-calibrate image-输入对应的长度和单位,一般和给出的比例尺长度很接近--ok
4、晶格条纹测量:选好测量区域,放大-右键,框选测量区域-progress-FFT出现6图所示的两个亮点-右键选择Spot,在亮点上单击选中亮点,-progress-inverse FFT得到7图,在7图上右键-点击右下角图标,画一条垂直于晶格条纹的线,这个线可以随时变换长度,控制新出现的蓝色图片(8图)上的峰基本保持一致,用出现的长度(虚线框最左边到最右边的距离,图中已经给出为1.914nm)除以峰的个数(红色圈的数量)即为晶格条纹。可以多测量几个晶格点确定所测晶格条纹范围。
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